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高纯锗探测器数字化谱仪

简要描述:高纯锗探测器数字化谱仪DS0200 是配套高纯锗探测器的一款新型数字化谱仪。其设计功能完善,其稳定性业已经实际使用验证。针对高效率探测器或高计数率条件下对信号处理的要求,结合软件,谱仪在数字化极零调节、死时间校正和弹道亏损校正方面做了具有相当先进性和独到性的设计。

  • 产品型号:DS0200
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2023-07-14
  • 访  问  量:768

详细介绍

品牌其他品牌产地国产
加工定制

高纯锗探测器数字化谱仪DS0200 是配套高纯锗探测器的一款新型数字化谱仪。其设计功能完善,其稳定性业已经实际使用验证。针对高效率探测器或高计数率条件下对信号处理的要求,结合软件,谱仪在数字化极零调节、死时间校正和弹道亏损校正方面做了具有相当先进性和独到性的设计。

谱仪整体功能与特性:

 全数字化控制,保证人机交互灵活

 探测器回温情况下高压自动切断功能(shutdown)

 多种滤波模式,可根据特定环境配置滤波参数,具备低频噪声抑制功能

 具备门控数字化基线恢复,自动极零,零死时间校正,弹道亏损校正等完整先进功能

 最大数据通过率大于 100kcps,对高计数率样品能获得准确的测量结果

 支持 USB3.0 接口

谱仪特征功能:

基础参数显示:系统的电源开启状态,高压开启状态,高压目标值,高压升降过程动态显示。

全数字化自动高压加载:用户根据探测器参数选定高压后,系统自动按指l定的速率和目标值进行高压加载,直到满足探测器要求。

异常处理功能:当系统意外掉电,设备自动启动 UPS 功能,并按异常处理逻辑,进行高压缓降,以保护探测器安全。

抑制电荷收集时间效应功能:基于 FPGA 的硬件算法,利用快通道梯形脉宽来统计电荷收集的方法简单实用高效。

具体参数指标:

系统非线性:积分非线性:≤ 0.01%;微分非线性:≤±0.28

最大通过率:成形时间设置为上升时间 500ns,平顶时间 500ns 时, 系统等效的死时间约为 2.79μs,此时,最大脉冲通过率将达到 130Kcps。

粗调增益::由计算机选定为 1,2,4,8

细调增益:由计算机设定为 0.45 至 1.00

尺寸与重量:376D X 242W X 116 H mm, 2.2KG

工作条件:0C 到 50C(包括 LCD 显示)。

操作系统:Windows 7/ Windows10。

显示/接口:320240 像素(pixel) 有机发光半导体(OLCD)系统状态信息。220V 市电接入端子,USB3.0 接口。高压输出接口,探测器电源接口,探测器信号输入端子。


高纯锗探测器数字化谱仪

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